干擾效應(yīng)按其性質(zhì)和產(chǎn)生的原因，可以分為4類：化學(xué)干擾、電離干擾、物理干擾和光譜干擾。

1、化學(xué)干擾

化學(xué)干擾與被測元素本身的性質(zhì)和在火焰中引起的化學(xué)反應(yīng)有關(guān)。產(chǎn)生化學(xué)干擾的主要原因是由于被測元素不能全部由它的化合物中解離出來，從而使參與銳線吸收的基態(tài)原子數(shù)目減少，而影響測定結(jié)果的準確性。由于產(chǎn)生化學(xué)干擾的因素多種多樣，消除干擾的方法要是具體情況而不同，常用以下方法：

1. 改變火焰溫度

   對于生成難熔、難解離化合物的干擾，可以通過改變火焰的種類、提高火焰的溫度來消除。如在空氣-乙炔火焰的PO₄^3-對該的測定有干擾，當改用氧化二氮-乙炔火焰后，提高火焰溫度，可消除此類干擾。

2. 加入釋放劑：

   向試樣中加入一種試劑，使干擾元素與之生成更穩(wěn)定、更難解離的化合物，而將待測元素從其與干擾元素生成的化合物中釋放出來。如測Mg²⁺時鋁鹽會與鎂生成MgAl₂O₄難熔晶體，使鎂難于原子化而干擾測定。若在試液中加入釋放劑SrCl2,可與鋁結(jié)合成穩(wěn)定的SrAl₂O₄而將鎂釋放出來。磷酸根會與鈣生成難解離化合物而干擾鈣的測定，若加入釋放劑LaCl₃,則由于生成更難離解的LaPO₄而將該釋放出來。

3. 加入保護絡(luò)合劑：

   保護絡(luò)合劑可與待測元素生成穩(wěn)定的絡(luò)合物，而是待測元素不再與干擾元素生成難解離的化合物而消除干擾。如PO₄^3-干擾鈣的測定，當加入絡(luò)合劑EDTA后，鈣與EDTA生成穩(wěn)定的鰲合物，而消除PO₄^3-的干擾。

4. 加入緩沖劑

   加入緩沖劑即向試樣中加入過量的干擾成分，使干擾趨于穩(wěn)定狀態(tài)，此含干擾成分的試劑稱為緩沖劑。如用氧化二氮-乙炔測定鈦時，鋁有干擾，難以獲準結(jié)果，向試樣中加入鋁鹽使鋁的濃度達到200ug/ml時，鋁對鈦的干擾就不再隨溶液中鋁含量的變化而改變，從而可以準確測定鈦。但這種方法不很理想，它會大大降低測定靈敏度。

2、電離干擾

    是指待測元素在火焰中吸收能量后，除進行原子化外，還是部分原子電離，從而降低了火焰中基態(tài)原子的濃度,使待測元素的吸光度降低，造成結(jié)果偏低。火焰溫度愈高，電離干擾越顯著。當分析電離電位較低的元素（如Be、Sr、Ba、Al）,為抑制電離干擾，出采用降低火焰溫度的方法外，還可以向試液中加入消電離劑，如1%CsCl(或KCl、RbCl)溶液，因CsCl在火焰中極易電離產(chǎn)生高的電子云密度，此高電子云密度可以只待測元素的電離而除去干擾。

3、物理干擾

    物理干擾是指試樣在轉(zhuǎn)移、蒸發(fā)和原子化的過程中，由于物理的特性（如粘度、表面張力、密度等）的變化引起吸收強度下降的效應(yīng)。采用可調(diào)式霧化器通過改變進樣量的大小、采用標準加入法（配置與被測樣品相似組成的標準樣品）或稀釋來消除物理干擾。

4、光譜干擾

    光譜干擾包括譜線重疊、光譜通帶內(nèi)存在吸收線、原子化池內(nèi)的直流發(fā)射、分子吸收、光散射等。當采用銳性光源和交流調(diào)制技術(shù)時，前三種因素一般可以不予考慮，主要考慮分子吸收和光散射，它們是形成光譜背景干擾的主要因素：

• 分子吸收是指在原子化過程中生成的分子對輻射的吸收，分子吸收是帶狀光譜，會在一定波長范圍內(nèi)形成干擾。

• 光散射是在原子化過程中產(chǎn)生的微小固體顆粒使光產(chǎn)生散射，造成透光度減小，吸收度增加。